技术编号:24347454
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及显示屏老化和测试技术领域,特别是涉及一种miniled显示屏老化与测试系统工装。背景技术随着led芯片成本的下降以及技术的进步,国内外led芯片和封装巨头纷纷开始寻找新的市场增长点,miniled作为市场前景广阔的新技术,近年受到广泛关注。miniled作为小间距led产品的延伸和microled的前奏,已经开始在lcd背光和rgb显示产品开始出货。为了有效保证产品的高性价比和量产,必须对miniled进行有效的老化处理。在电子老化测试行业中,传统的老化方法主要以人工作业为主。然而,人...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。