技术编号：24635993
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及球面场天线测量技术领域，尤其是涉及一种多边形球面空间采样设备。背景技术近场测量是指在距天线3-8个波长的距离上，用一个电特性已知的探头在近区某一表面上，记录下探头接收电压的幅度、相位随位置变化的关系，通过严格的近远场数学变换来确定天线的远场特性。根据扫描面形状，分为平面近场测量、柱面近场测量和球面近场测量。空间采样技术是球面近场测量的关键技术，采样数据的准确性直接影响到电磁波的场变换结果，是影响系统误差的关键因素。现阶段球面近场空间采样方案：多个探头等间距分布在圆环结构上，通过探头的电...
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