技术编号:24875239
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种多联张非接触智能卡片同测设备的实现方法,涉及多联张非接触智能卡inlay测试和成卡测试设备领域,提供一种同时测试多张非接触智能卡片的实现方法。背景技术非接触智能卡在生产加工过程中,首先是以多联张卡的形式被加工出来,后期确认功能完好后,才会被裁剪为单张卡片。因此在非接触智能卡生产的早期测试环节,为了节约成本,首先都是针对多联张卡的形式(如25联张、32联张、40联张等)进行非接触智能卡片的电性能测试以及其他功能的测试。目前多联张智能卡的测试设备通常只能同时使用1~5个读卡芯片,同一批...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。