技术编号:25043570
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。nand测试方法、装置、可读存储介质及电子设备技术领域.本领域涉及存储器测试领域,特别涉及一种nand测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。背景技术.运行数据测试(run data test,rdt)是用于下载固件(fireware)到固态硬盘(solid state drive,ssd)进行io(输入/输出、input/out)之前,对ssd上的每个block做擦写读的一种测试,能够提前筛选出坏块(bad block)或弱块(weak block)。nand(计算机闪存设备)中具有两种擦...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。