技术编号：25193702
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及检测装置技术领域，具体领域为一种用于平面测量的激光装置平台。背景技术平面度(flatness；planeness),是属于形位公差中的--种,指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。平面度误差是将被测实际表面与理想平面进行比较,两者之间的线值距离即为平面度误差值，或通过测量实际表面上若干点的相对高度差,再换算以线值表示的平面度误差值。但是此种装置无法对大型设备进行测量。实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种用于平面测量的激光装置平台，以解决上述背景技术中提出的问题。为实现...
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