技术编号:25309591
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片检测领域,特别是一种升降式芯片检测设备及方法。背景技术.在芯片检测领域,现有的芯片检测设备中,芯片检测时普遍通过探针模块实现芯片的导通。具体地,在芯片到达预设位置后,探针模块需要下降一定距离与芯片的电极接触。整个芯片检测过程中国,探针模块需要往复进行升降。该种芯片检测防止导致探针模块的结构复杂,占用空间大,在检测设备有限的内部空间及芯片尺寸等条件限制下,现有芯片检测设备能够按照的探针模块较少,进而导致同一时间能够检测芯片的数量有限,严重影响芯片检测效率;且过于复杂的结构慧导致...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。