技术编号：25345269
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及细微尺度力学领域，具体而言，涉及一种微力测量装置、其制备方法及原位力学测试的方法。背景技术.对细微尺度的试样进行力学测试时通常面临难以对准和固定试样的问题，此外由于载荷与试样特征尺寸的平方成正比，而位移与试样的特征尺寸成正比，随着试样尺寸的减小其载荷和位移都变得非常小，导致对细微尺寸下的试样进行力学测试时要求传感器具有很小的尺寸以及高的位移和力分辨率。.目前，几乎所有的细微尺度试样力学测试方法都是利用细小的探针与待测试样接触，然后监测探针施加于试样的载荷和位移从而获得作用于试样...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。