技术编号：25381488
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及半导体芯片测试领域，特别涉及一种用于芯片测试设备的保护座。背景技术.在半导体芯片的研发及大规模生产过程中，均需要对芯片的各类性能进行测试，芯片测试保护座是测试装置中的关键部件，通过固定夹持芯片以及在线路板之间传输讯号和电流来完成芯片测试功能，芯片测试保护座广泛应用于半导体芯片测试领域；现有的芯片测试保护座在使用时存在一定的弊端，芯片安装麻烦，芯片引脚接触不良影响测试精度，为此，我们提出一种用于芯片测试设备的保护座。实用新型内容.本实用新型的主要目的在于提供一种用于芯片测试设...
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