技术编号：25730636
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及射频集成电路芯片性能测试，尤其涉及一种射频功放芯片测试系统。背景技术大功率射频功放芯片射频指标测试主要分为大信号测试和小信号测试。大信号测试中主要测量增益，最大输出功率等，所需要测试设备输出/输入功率较大，通常现有技术是通过信号发生器和功率计组合来进行测试。小信号测试主要是s参数测试，通常现有技术是通过网络分析仪测试。在现有技术中，大、小信号测试因为需要设备不同，需要分为两个站别分别对应两种设备对芯片进行测试。但是在芯片大批量产测试过程中，芯片在两个站别之间切换，操作繁琐效率较低。发明...
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