技术编号：25974626
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及介电性能测试领域，具体而言，涉及一种介电性能测试装置。背景技术随着微波、毫米波理论及技术研究的发展，薄膜材料的应用随之有较大拓展，在雷达天线、通信、复合材料等领域的应用越来越广泛，不同的应用需求对薄膜样品的介电性能的要求有很大差异。但是薄膜材料厚度很薄，体积较小，在薄膜样品测试时一般将其涂覆在特定的基底上，其中在测试块状均匀介质时，测量高频介电性能较困难。目前，薄膜样品的介电常数测量方法主要有谐振腔法及传输/反射法，谐振腔法只能用于点频测量，要测量多个频点需要制作多个不同的谐振腔体...
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