技术编号:26274587
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于信息技术领域。涉及一种主要用于天线测量、通信信号测量等方向的天线平面近场测试方法。背景技术天线参数的测试和验证是天线设计过程中不可或缺的过程。天线测试的主要内容包括测量天线的电参数、辐射参数,以评价天线的性能。天线测试方法有远场测试、紧缩场测试、平面近场测试。天线的测量经历了一个从远场测量到近场测量的发展过程。远场测量是直接在天线的远场区对天线的电磁场进行测量,所以测量场地和周围范围电磁环境对测量精度影响比较大,对某些天线来说,要求测量距离要远大于2d2/λ,其中d为被测天线的口径尺寸...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。