技术编号：26351723
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于计算机视觉中的图像处理和模式识别领域，涉及一种基于深度学习的薄膜划痕瑕疵检测方法。背景技术随着对于薄膜的需求量不断地增长，薄膜制造行业加速发展，薄膜生产企业开始采用更宽的幅宽和更快的生产线来提高企业生产效率，然而现代薄膜制造行业的对于薄膜质量的要求也日益严格，越来越多的企业开始关注薄膜制造过程中对薄膜质量的控制。由于制造技术和环境的影响，薄膜表面可能会出现各种瑕疵，其中划痕是一种最常出现的瑕疵，影响薄膜的外观以及质量，给生产企业带来不必要的问题，但由于划痕往往细小、形状不规则以及倾斜角...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。