技术编号:26496724
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及轴承套圈检测的领域,尤其是涉及一种内套圈平面度测量仪。背景技术.由于高精度轴承套圈的平面度直接影响套图的沟摆和垂直差,进而影响到整套轴承的旋转精度与性能。目前行业内现有的平面度测量方式通常是将内套圈被测平面与一基准面用色研合,通过被测平面着色后的着色面积的百分比来判断平面度是否符合要求,此种测量方法应用不便且测量结果不能量化,测量效率低,误差大。.现有的专利申请号为cn.的中国专利,提出了一种内套圈平面度测量仪,包括底座,还包括安装在底座上的定位板,安...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。