技术编号：26545835
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及显微成像和光谱测试技术，特别涉及一种具有新型散射光路的暗场散射光谱仪测试系统。背景技术.显微成像是一种用于对观测对象进行光学放大，通过图像采集设备的感光区域观测和记录，来实现对样品的检测及进行形态分析的技术，自问世以来即在科研和工业领域有广泛应用。但是,无论是传统的光学显微镜还是各种电子显微镜,它们都只能提供微小物体(如细胞等)的形态学计量,并不能给出物体中物质结构和成分的进一步细节.而成像光谱技术把成像技术和光谱技术有机地结合在了一起,不仅能对物体进行形态成像,并且还能提供丰富...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。