技术编号:27094747
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及电子元器件测试技术领域,特别是涉及一种电子元器件测试装置及其测试方法。背景技术.随着科技的进步,电子元器件的使用越来越广泛,对于初次生产的电子元器件必须进行批量测试才能够投入市场。因此,为了测试电子元器件的功能和性能,在工业中经常会使用活动式零插拔力的测试座对电子元器件进行测试。.如图所示,现有的一种测试座p的结构被阐明。所述测试座p的零插拨力通过侧面的扳手p进行控制,当需要测试的电子元器件封装尺寸较大时,例如当电子元器件的尺寸超出测试座p的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。