技术编号:27179611
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及缺陷检测技术领域,尤其是指一种芯片外观视觉检测机构。背景技术.缺陷检测通常是指对物品表面缺陷的检测,表面缺陷检测是采用先进的机器视觉检测技术,对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。芯片在出厂前需要对其外观进行检测,而现有的芯片检测设备大多只能对芯片的表面进行检测,而忽视了芯片的边角,导致不能对芯片进行全面检测,降低了检测效率。实用新型内容.为此,本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术中大多数设备只能对芯片进行表面检测,而忽视了芯片的边角,导致不能对芯...
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