技术编号：27223238
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及材料缺陷尺寸的超声测量领域，特别涉及一种多晶体材料缺陷尺寸的超声测量方法。背景技术.目前常用的机械工程材料以多晶体材料为主，如铁基合金、铝基合金、铜基合金、镍基合金等等，已被广泛用于航空航天，武器装备，海洋平台等多个重要领域。然而，这些材料在冶炼、机加工的过程中不可避免地存在着微小缺陷。特别地，本发明涉及的微小缺陷指尺寸不大于.mm，但大于多晶体材料平均晶粒尺寸的缺陷。这些微小缺陷会使的多晶材料的抗疲劳性能下降，对材料的疲劳寿命构成潜在的隐患；在产品使用的过程中微小缺陷容易诱...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。