技术编号：2737191
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明的一个方面一般来说涉及测试装置，更具体地说，涉及一种分布式测试系统，它提供对多个场所的多个光学元件进行测试的能力。本发明的另一个方面涉及使用基于处理器控制的自动对准器的光学元件的对准和制造。有若干测试光学元件的损失和其他特性的方式。例如，能向元件发射已知波长和振幅的单个光信号，并且能根据在装置的输出测量的信号来推断损失。可选择地，能向装置顺序地发射多个信号，并且对各个波长进行类似的测量。在制造和生产环境中，优选地在感兴趣的波长范围内尽可能快地测试装置...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。