光学测量用余弦光强分布物理结构光栅的设计与制作方法技术资料下载

技术编号:2756158

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本发明涉及,特别是一 种基于图像抖动原理,利用电子束光刻方法制作的光学三维测量用物理结构光栅,该光栅 包括三频三步相移九幅图,属于机械工程和光学测量。背景技术随着逆向工程技术的推展,三维测量技术得到工业界的普遍关注和广泛应用,并 成为逆向工程中关键的一环,而基于光学的三维轮廓测量技术在三维测量中发挥着越来越 重要的作用。在光学三维测量中,至少需要一个投影装置,如液晶投影仪,以及一个接收装 置,通常为CCD相机。由于光学三维测量技术对投影有着很高的要求,因此...
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