技术编号：2768368
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于激光扫描系统，且更明确而言是关于以激光扫描为基础进行基材的光学检测的方法及系统。背景技术 在显微镜领域中，众所皆知可在影像样本中观察相位变化以强化该难以看见的特征检测。例如，由M.Bass、E.W.Van Stryland、D.R.Williams、W.L.Wolfe等人在光学手册II(McGraw Hill书局，1995年第2版)第17.28-17.36页所描述的微分干涉差(DIC)显微镜，其全文合并于此以供参考。DIC显微镜可提供单投射阴影...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。