技术编号:2780419
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种曝光装置,尤其涉及一种不受掩模尺寸限制且低成本的扫描型(scan-type)曝光装置。背景技术 一般来说,曝光装置是用光刻法实施曝光过程的半导体器件,曝光是用于将掩模图案转印到玻璃上(如PDP,LCD半导体这些产品)的关键工序。光刻法包括晶片漂洗过程,用于在光处理(photo process)之前除去粘附于晶片表面上的杂质;表面处理过程,用于处理晶片表面从而使光敏膜更好地粘附到晶片上;光敏膜涂敷过程,用于将光敏膜以所需厚度均匀涂敷到晶片上;对...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。