背光源框架定位调整治具的制作方法技术资料下载

技术编号:2812989

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本实用新型涉及一种背光源框架定位调整治具,特别是涉及一种可以将 不同尺寸的背光源框架精密调整定位使其处于标准状态,以利于逆向检测的 治具。技术背景-背光源框架由于其本身的结构因素,在自然放置时是处于变形状态的。 传统的测量方法是利用二次元投影的原理进行,这种测量方法不仅精度不高, 而且对于背光源框架侧面的尺寸测试不到,不能进行全尺寸检测。三坐标测量机的引进解决了测量精度及全尺寸检测的问题。但如果对背 光源框架只进行简单的定位,利用三坐标测量机逆向重构及全尺...
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