技术编号：28281323
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及红外热像仪技术领域，尤其涉及一种基于漫反射金属板的面阵制冷红外热像仪校正方法、用于面阵制冷红外热像仪的校正装置以及面阵制冷红外热像仪成像方法。背景技术.面阵制冷红外热像仪采用高分辨率的焦平面阵列制冷红外探测器，已成为红外热像仪的主流配置。但是由于焦平面阵列式器件加工水平等因素，所有的红外探测器均存在器件响应不一致的非均匀性。当红外探测器装配成红外热像仪时，必须经过非均匀校正才能正常成像使用。.目前，常用的非均匀校正方法包括单点非均匀校正法和两点非均匀校正法。单点非均匀校正法基于...
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