技术编号：29312105
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种用于芯片老化测试的驱动电平调节电路及系统。背景技术.在芯片老化测试中，需要对芯片进行电平的驱动测试，一般在芯片老化中的驱动测试通常需要摆动速率为m以下的低速老化测试。老化的芯片在测试过程中，需要考虑数字信号、模拟信号以及差分信号等多种信号，对测试电路的兼容性有较高要求。目前的实现方法主要通过使用io电平转化相关方式，但该方式实现过程中需要使用dac参考电平电路、io转换芯片、限流限压电路等相关电路及器件，电路结构较为复杂；而且由于使用了电平转换...
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