技术编号:29436959
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于oled显示制造技术领域,具体涉及一种掩膜板及其圆形开孔偏移量测方法。背景技术.目前oled(organic light-emitting display,有机电致发光二极管)产品是下一代显示技术发展方向,目前已发展处多样化的应用场景,包括手机、平板以及手表等穿戴产品。oled器件由多层有机物薄膜及金属薄膜组成并采用蒸镀工艺生产,蒸镀时需用到掩膜板以在特定区域形成薄膜,掩膜板像素开孔尺寸与产品大小基本一致。一般在掩膜板使用前需量测其目标开孔的tp值(total pitch),tp...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。