技术编号：29600092
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种自动标记坏点的芯片测试装置及测试方法。背景技术.芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分，由于芯片结构精细、制造工艺复杂、流程繁琐，不可避免地会在生产过程中留下潜在的缺陷，使制造完成的芯片不能达到标准要求，随时可能因为各种原因而出现故障，因此，为了确保芯片质量，通常会对芯片进行测试，以便将良品和不良品分开。.在对芯片进行测试时，坏点检测是重要的检测项目，现有的坏点检测通常采用超声波扫描显...
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