技术编号：29614883
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请实施例涉及集成电路领域和存储领域，特别涉及获取时序老化敏感性信息的方法和装置、电子设备、计算机可读存储介质。背景技术.随着电子技术的不断发展，人们通过不断缩小器件尺寸来获得更高的集成电路性能。但在先进的纳米工艺条件下，随着电路集成度的提高和复杂度的提升，其可靠性问题也变得日益严峻。与之相对的，人们对于集成电路的可靠性和使用寿命的需求却越来越高。在集成电路的使用过程中，金属氧化物半导体(mos，complementary metal-oxide semiconductor)的老化是最主...
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请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。