技术编号：2979546
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及带电粒子分析仪以及对带电粒子进行分离和分析的方法，例如使用飞行时间质谱测定法。飞行时间(TOF)质谱仪被广泛地用于根据带电粒子沿一条路径的飞行时间来确定其质荷比。带电粒子(通常是离子)是以包的形式从脉冲源发射出来的并且沿预定的飞行路径被引导通过真空空间而撞击到一个检测器上或通过该检测器。以其最简单的形式， 该路径遵循一条直线，并且在这种情况下，以恒定动能离开该源的离子在一段时间之后达到该检测器，这段时间取决于它们的质量，离子的质量越大就越慢。除其...
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