技术编号：30517404
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及静电测试领域，尤其涉及一种用于测试待测试设备的测试设备及测试方法。背景技术.在电子设备的测试过程中，静电测试对于电子设备而言非常重要，当使用者使用电子设备时，使用者所携带的电荷会进入电子设备，容易对电子设备内部的金属器件或者印刷电路板等造成伤害。.当采用传统的静电测试台进行测试时，将被测试的电子设备直接放置在静电测试平台上，并向电子设备中注入静电。然而，在上述测试过程中，电子设备的放电点是随机的，即，进入电子设备内部的静电电荷可能会从电子设备的任一空隙处流出。.在上述测试过程...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。