技术编号:30928958
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种全自动dram存储单元读写功能测试方法和系统技术领域.本发明涉及集成电路测试技术领域,更具体地,涉及一种全自动dram存储单元读写功能测试方法和系统。背景技术.dram存储单元读写功能测试通常是建立在dram存储单元的故障模型上,常见的故障模型主要有:()基于固定单元的故障模型;()基于桥接缺陷的存储器测试故障模型;()基于关联缺陷的存储器测试故障模型;()数据保存故障模型等。这些故障模型表现出的故障模式主要有:()固定为“”/“”的硬失效或软实效;()开路或短路故障;(...
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