技术编号：30994853
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及偏光膜缺陷检测，特别地是，一种偏光膜缺陷光学检测系统。背景技术.涂布工艺段的偏光膜在加工过程中易出现膜面局部翘曲缺陷（诸如，气纹部或凹凸部）。目前所使用的检测方法是质检人员通过肉眼直接观察偏光膜的膜面。缺点在于，效率低且误检率较高。实用新型内容.本实用新型要解决现有技术采用直接观察方法检测涂布工艺段的偏光膜的膜面局部翘曲缺陷引起的问题，提供一种新型的偏光膜缺陷光学检测系统。.为了实现这一目的，本实用新型的技术方案如下：一种偏光膜缺陷光学检测系统，用于检测涂布工艺段的偏光膜...
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