技术编号：31046167
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种cmos芯片开短路测试系统及测试方法技术领域.本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种cmos芯片开短路测试系统及测试方法。背景技术.开短路测试(又称open/short测试，o/s测试)，主要是用于测试电子器件的连接情况，顾名思义，开短路测试就是测试开路与短路，开短路测试应用非常的广泛，例如：测试pcb板，测试ic邦定线，测试ic的封装，测试线材，测试fpc，测试薄膜开关，测试连接器等等，不同的应用又有比较特别的需求，目前，cmos芯片的开短路测试仪只能针对并口的产品进行测试，无法满足市...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。