技术编号:31225636
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及碳化硅新材料技术领域,具体涉及一种双面刷洗机以及一种碳化硅晶片表面的清洗方法。背景技术.以sic为代表的第三代宽带隙半导体材料,是发展大功率、高频高温、抗强辐射蓝光激光器和紫外探测器等技术的核心。sic晶体具有禁带宽度大、热导率高、电子饱和漂移速率大、临界击穿电场高、介电常数低、化学稳定性好等特点,是电力电子领域si的首选替代品,在通信、汽车、航空、航天、石油开采以及国防等领域有着广泛的应用前景。.对于制作应用器件的碳化硅晶片表面洁净度要求非常高,在抛光后的晶片表面残留抛光液、...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。