技术编号:31284509
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型属于x射线荧光分析仪设备的技术领域,具体为一种荧光分析仪的校准装置。背景技术.x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述x射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪;.x荧光多元素分析仪在校准时需将校准样组放置在样品孔内进行校准,校准完毕后需将校准样组取出然后放入待测样品,而且要依次校准分析仪测量铝、硅、 钙、铁数据,操作不便。实用新型内容.针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的是提供了一种荧光分析...
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