技术编号:31323939
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种ict测试治具技术领域.本实用新型涉及测试治具技术领域,尤其涉及一种ict测试治具。背景技术.ict测试治具即集成电路测试仪器治具的缩写,就是在线检测、测试治具,是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。.但现有技术中,现有的ict测试治具在对制成板上的元器件进行检测时,测试针需要与元器件相接触,在接触的过程中容易导致制成板偏移,进而容易对测试针和元器件造成损伤。实用新型内容.本实用新型的目的在于提供一种ict测试治具,以解决上述背景技...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。