技术编号:31334659
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。edac加固微处理器单粒子翻转截面的测试方法技术领域.本发明涉及单粒子效应测试技术领域,特指一种edac加固微处理器单粒子翻转截面的测试方法。背景技术.微处理器凭借其集成度高、运算能力强、io接口丰富等特点,在航空、航天领域得到了越来越广泛的应用。然而,应用于航空、航天等恶劣辐射环境的微处理器内部存储程序和数据的sram部件很容易在空间高能粒子的轰击下发生单粒子翻转效应(single-event upset,seu)而产生软错误,造成不可估量的损失。因此,准确测试微处理器对单粒子翻转效应的敏...
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