技术编号：31361372
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及表面技术领域，特别涉及一种基于角分辨散散测量各向同性随机表面粗糙指数的方法及其装置。背景技术.随机表面在自然界中随处可见，分为各向同性随机表面和各向异性随机表面两类。随机表面的描述是随机表面研究的基本问题，可以准确描述随机表面的模型为自仿射分形表面模型，该模型主要有粗糙指数、方均根粗糙度和横向相关长度这三个统计参量来描述。对随机表面参量提取的方法比较多，主要分为两类：接触法和非接触法。接触法包括原子力显微镜、扫描探针显微术等，非接触法包括x射线衍射、光散射法、电子衍射等，其中光散...
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