技术编号：31832108
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及光学测量技术领域，特别涉及一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备。背景技术.条纹投影测量方法作为一种结构光三维测量方法，具有测量速度快、精度高、无应力接触、应用范围广以及方便快捷等特点，被广泛应用在工业测量、逆向工程、生物医药、文物修复以及日常生活娱乐等方面。.条纹投影测量方法需要向测量对象表面投影一系列具有一定相位差的正弦条纹图案，然后采集经测量对象表面调制后变形的条纹图案，解算出包裹相位后，根据相位展开算法计算出测量对象表面的绝对相位值，再根据测量系统模型得到测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。