技术编号：32034894
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及自动化生产的芯片测试领域，特别是涉及芯片自动测试设备。背景技术.对于激光器芯片的测试，尤其是在高温加热环境下的全自动测试，传统设备无法完成，需要手工加载及调节。.其他需要在高温加热环境下进行测试例如老化测试的芯片例如芯片内建芯片(chip on chip，coc)等亦存在类似问题。.而且现在人力资源逐渐缺乏，机器换人势在必行。发明内容.基于此，有必要提供一种芯片自动测试设备。.一种芯片自动测试设备，其包括台板总成、升降台、料斗、tec温控台、旋转上料组件、载料台、测试台、...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。