技术编号：32117439
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及电磁场的均匀场校准技术领，特别涉及一种可调节式探头支架。背景技术.辐射电磁场抗扰度测试的目的是为了评估电子电气产品在强辐射干扰环境下是否能够正常工作，测试之前会用一个探头放在被测物所在位置，进行辐射场强的强度校准，但由于被测物大小不一，为了让较大的被测物整个平面接收到的干扰强度一致，故在校准瞬变电磁场的场均匀性时，需要使用到探头支架配合探头进行检测，现有的探头支架在使用过程中至少有以下弊端：、现有技术在校准电磁场的场均匀性时，需通过支架来调节测试探头的位置和角度，但一般的在...
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