技术编号：32161217
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。基于uip的芯片测试系统和测试方法技术领域.本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于uip的芯片测试系统和测试方法。背景技术.要实现对芯片的测试一般需要实现dc测试能力以及function功能测试能力。dc测试，即利用欧姆定律实现的直流特性的测试，如fvmv(恒压测压)测试、fvmi(恒压测流)测试、mvm(只测电压)测试)能力。function功能测试，即测试芯片的各项功能，这是芯片测试领域的一个抽象概念。通常不同的芯片有不同的功能，也就会有不同的测试方法，如eeprom存储芯片的fu...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。