技术编号：32283137
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及平面度测量技术领域，具体为一种测量直径可调的平面度测试装置。背景技术.随着光学材料应用的日益发展，光学材料已广泛用于通信、传感、图像传输、激光等领域，且对这些光学材料的要求越来越高，不仅要求极高的平面度，极小的表面粗糙度，而且要求表面无变质层，无划伤。光学材料的研磨和抛光工艺和设备对这些行业的发展起关键作用。.目前的技术现状是对于大尺寸(直径≥mm)的光学材料加工样品，研磨后测平面度是用装有千分表的工装测量；对于小尺寸(直径＜mm)的光学材料加工样品，传统的方法...
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