技术编号：32437948
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请属于半导体领域，尤其涉及一种基于逻辑分层的图元渲染方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。背景技术.在半导体工艺中，生产线良率表征的是晶圆从下线到成功出厂的概率，晶圆良率表征的是一片晶圆上的芯片合格率，晶圆良率是完成所有工艺步骤后测试合格的芯片的数量与整片晶圆上的有效芯片的比值，而良率管理旨在为生产制造环节的缺陷分析、发现、定位、诊断提供直接、有效手段，对提高整个芯片生产制造的合格率，降低成本具有重要意义。.良率管理软件，主要通过数据可视化方案为芯片厂不同机台、不同批次、不同时段...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。