技术编号:32532614
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及光纤器件深度测试的技术领域,尤其涉及一种深度测量仪。背景技术.光纤产品的特征参数如几何参数、数值孔径以及微弯特性等对光纤的应用有重要影响。在一般情况下,因为光纤接头组件的组合可以相互补偿,所以组合好的光纤接头的深度超出.是没有特别大的影响,但是光纤接头的深度公差会根据受到其他组件的累计公差所影响,如果深度公差超差严重,会导致光纤接头产生插拔力、插回损和接触不良等多种不稳定因素,所以在出货前需要对光纤接头进行深度测试。现有用于光纤接头深度测量的深度测量仪,需要频繁调节测量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。