技术编号:32817039
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及测试技术领域,特别是涉及一种背板、测试机及测试系统。背景技术.自动试验设备(automatic test equipment,简称ate)是半导体产业中集成电路(integrated circuit,简称ic)的自动测试机,用于检测集成电路功能的完整性,是集成电路生产制造的最后流程,以确保集成电路生产制造的品质。.ate的测试机(tester)内部包括主控模块和至少一个测试板卡(instrument),主控模块与测试板卡之间通过总线连接。.然而,随着测试机内部结构越来越复...
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