技术编号:33065542
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及芯片测试平台技术领域,具体为一种防偏移的芯片测试平台。背景技术.芯片测试平台是用于对芯片的性能进行检测的,以便于得知芯片的生产是否合格,便于对芯片的质量进行抽检;.现有技术中公告号为“cnu”公开的专利名称为“一种芯片测试平台”,在使用时如果测试完成的芯片合格,转座向良品箱倾斜,使得测试合格的芯片滑动至良品箱内;如果测试完成的芯片不合格,转座向次品箱倾斜,使得测试不合格的芯片滑动至次品箱内;.上述现有技术中,在良品箱内开设有良品腔用于对合格的芯片进行放置...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。