技术编号:33179509
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请实施例涉及试验设备技术领域,尤其涉及一种跌落测试系统、方法及控制设备。背景技术.电子设备的跌落可靠性是电子设备的重要性能,电子设备接触地面时的速度为落地速度,如果电子设备具有同样的落地速度,电子设备的损伤程度越低,跌落可靠性越高。电子设备的损伤程度越高,跌落可靠性越低。.跌落测试系统用于测试电子设备的跌落可靠性。跌落测试系统通过夹具夹持待测试的电子设备,并在同步带的带动下上升至指定的测试高度。夹具在该测试高度处放松电子设备,以令电子设备以该测试高度处为起点,做初始速度为的自由落体...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。