技术编号：33384533
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及集成电路测试设备技术领域，特别涉及一种集成电路基板检测设备。背景技术.目前，需要检测集成电路基板的引脚和mark点是否具有缺陷，并按照其缺陷种类对集成电路基板进行分组整理，相关技术中，通过转塔机构对集成电路基板分组，转塔机构结构复杂，占位空间大、成本较高，或者，通过直线电机驱动吸嘴头吸取集成电路基板实现运料，成本也较高。发明内容.本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提供一种集成电路基板检测设备，可以替换转塔机构，节省成本，减小占位空间。.根据本发...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。