技术编号：33707263
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用于二极管i/v曲线及参数全电压范围测试装置及方法技术领域.本专利涉及芯片测试技术，主要是针对二极管iv曲线全电压范围连续扫描及参数高效、高精度的测试方法。背景技术.二极管分立器件测试和失效芯片管脚的二极管特性测试是关于二极管测试常见的两种场景，随着电子产品需求的增长以及芯片行业如雨后春笋般崛起，芯片越来越受到大众的关注，同时随着芯片工艺尺寸的缩小，芯片管脚承受esd损伤的风险越来越大，当芯片管脚损伤时需要扫描管脚对gnd和对vcc电源的二极管特性曲线和参数来进行失效分析，这是早期故障定位的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。