技术编号：33749704
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及材料技术领域，特别涉及一种基于荧光发射寿命-温度关系的测温材料及测温系统。背景技术.目前对电力设备温度检测已研究和应用的光学检测方法通常分为两个主要类别：红外-热辐射检测和荧光热成像。其中，红外热辐射检测技术发展已较为成熟，但是红外热辐射测量技术在其大规模应用过程中仍然显示出其不可避免的先天缺陷：()当待测物体表面各个区域温差较小时，其检测精度不高，热分辨率极限仅能达到.k；()待检测的黑体辐射的长红外波长导致室温物体的固有低空间分辨率(约为μm)，这是由于阿贝衍射极...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。